hiXAS
集成 XAS 解决方案 产品手册：
特点：
· 基于实验室的交钥匙 EXAFS 和 XANES 系统
· 同步加速器品质光谱
· 高信噪比
· 高达 1keV 的宽通带
集成 XAS 解决方案 hiXAS 为扩展 X 射线吸收精细结构 (EXAFS) 和 X 射线吸收近边结构 (XANES) 测量提供完整的实验室解决方案。它体积小巧，集成了 X 射线管源、高分辨率光谱仪和混合探测器，以及用于控制仪器功能和分析数据的软件套件。
光谱质量与同步加速器测量相当，因此不再需要繁琐的申请和等待光束时间。
X 射线管源和光谱仪覆盖 5 至 12 keV 的能量范围，因此包括 3d 过渡金属的 K 吸收边。光谱仪的优化 HAPG von Hamos 架构可产生极高的信噪比。因此，分析物浓度可以低至几个重量百分比。该仪器结合了高效率和高达 E/ΔE = 4000 的高光谱分辨率，在覆盖的吸收边范围内保持恒定。
hiXAS 提供定制版本。对于较低能量的应用，请参阅 proXAS。详情请咨询我们。
元素范围
结论
应用
· 化学形态和浓度比
· 化合物研究
· 短程有序和键长测定
· 催化剂分析
proXAS
台式NEXAFS系统 产品手册：
· 首个集成式 NEXAFS 光谱解决方案
· 无需申请 beamtime
· 地质学、生物、材料研究的化学状态分析
桌面NEXAFS proXAS 是市场上第一款可在实验室中提供 NEXAFS 测量的系统。现在可以在内部进行元素分析的指纹识别，并快速获得准确的结果。
它结合了高可靠性的基于激光的 XUV 源和定制的光谱仪，具有 1900 的极高解析度。200-1200eV 的能量范围允许测量 C、N、O、Ca、K、Ti 等元素的 K 边。
proXAS 提供定制版本。对于更高能量的应用，请参阅 hiXAS。
任何需求请联系我们。
proXAS 可进行 NEXAFS 测量的元素范围包括 C、N、O、F 的 K 吸收边，以及 K、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu 的 L 边。
甚至可以测量分析物浓度仅为 0.2 wt% 的稀释样品。
氧化矿物针铁矿、赤铁矿、水铁矿和 CCa-2 绿泥石的氧 K 边的 NEXAFS 光谱。
（1）用台式NEXAFS系统测量，测量时间5分钟
（2）用于比较在同步加速器上记录的NEXAFS光谱
峰值位置的能量偏差不到 0.06%，强调了 proXAS 测量与同步加速器数据的高度一致性。
PMDA-ODA 聚酰亚胺碳 K 边的 NEXAFS 光谱。
（1）用台式NEXAFS系统测量，测量时间2.5分钟
所有与苯环跃迁相对应的光谱特征均被清晰地分辨。
· 地质科学
· 地球化学中的化学状态分析
· 电子结构与氧化态分析
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